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晶圆制造工艺分析、晶圆材料分析(FIB\TEM\SEM)

晶圆制造工艺分析、晶圆材料分析

       广电计量的资质能力处于行业*水平,截止至2021年12月31日,CNAS认可7166项,CMA认可59345个参数,CATL认可覆盖 58个类别;在支撑各区域产业⾼质量发展过程中,广电计量还获得政府、行业及社会组织颁发的资质荣誉100余项。
我司集成电路检测试验可对包括晶圆、半导体器件提供微观结构分析、材料形貌分析、膜层分析、成分分析等检测分析服务。

晶圆制造工艺分析:

1、14nm及以上制程芯片晶圆制造工艺分析
2、MOSFET制造工艺分析
3、存储芯片制造工艺分析

      广州广电计量检测股份有限公司(股票简称:广电计量,股票代码:002967)始建于1964年,是 原信息产业部电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测、元器件筛选与失效分析等多个领域的技术能力及业务规模处于国内*水平。
       广电计量在全国建有23个综合性检测基地,54个分子公司,形成了覆盖全国的技术服务保障能力,为各行业和各领域客户提供便捷计量检测技术服务。

        试验室地点:广电计量检测-浦东试验室(康桥东路958号) 

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