AEC-Q104

      AEC-Q104对多芯片模块的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。

       需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q104的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。

       如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104 认证。
       若模块中的所有器件（被动元器件、分立器件、芯片等）都以单独完成了AECQ认证，那么只需对模块进行AECQ104标准中H组测试项目，合格后即能申明模块整体通过AECQ104认证。

AECQ104认证测试周期：

• 3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

AECQ104认证测试地点：

• 广电计量广州总部、广电计量上海试验室。

AECQ104认证测试项目：

      广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。