功率模块\IGBT参数测试、性能测试、可靠性验证
广电计量（GRGT）积极布局新型IGBT功率模块及第三代半导体功率器件的测试业务，引进国际先进的测试技术，为功率半导体产业上下游企业提供器件全参数检测服务。同时，广电计量通过构筑检测认证与分析一体化平台，为客户提供器件可靠性验证及失效分析，帮助客户分析失效机理，指导产品设计及工艺改进。
IGBT\功率模块试验项目
- 静态参数：BVDSS IDSS、IGSSVGSth)、 RDS(on)、VvDSoni VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、s、Vespl)
- 动态参数：td(on)、tr、tdof)、tf、Eon Eoff、tr、Qrr、Irm、dirr/dt、QG、QGC、QGE…
- 其他参数：Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOR…
广电计量专家团队深入解读IGBT测试相关标准，建立功率模块可靠性验证技术能力，可以为功率半导体产业上下游企业提供具有权威性的可靠性验证与车规认证AQG324检测验证报告。
IGBT\功率模块可靠性验证试验项目
- 环境测试：热冲击、机械振动、机械冲击；
- 寿命测试：功率循环（PCsec）、功率循怀（PCmin）、高温存储、低温存储、高温反偏、高温棚偏置、高温高湿反偏；
广电计量功率模块覆盖标准
- AEC-Q分立器件认证
- MIL-STD-750半导体器件试验方法
- EC60747系列Semiconductor Devices， Discrete Devices
- GB/T29332半导体器件-分立器件-第9部分∶绝缘棚双极晶体管（GBT）
- AQG324功率模块车规认证