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广电计量检测集团股份有限公司（GRGT）
环境与可靠性试验、失效分析、元器件筛选、芯片检测、功率器件检测、半导体工艺分析
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文章分类
电子元器件失效分析 (29篇) 展开 列表
晶圆材料分析、半导体器件材料分析（FIB\TEM\SEM）
14nm及以上制程芯片晶圆制造工艺分析；MOSFET制造工艺分析；存储芯片制造工艺分析
阅读(2182) 评论(0) 2022-11-17 15:48
晶圆制造工艺分析、晶圆材料分析（FIB\TEM\SEM）
1、14nm及以上制程芯片晶圆制造工艺分析 2、MOSFET制造工艺分析 3、存储芯片制造工艺分析
阅读(2514) 评论(0) 2022-11-16 16:46
功率半导体器件\模块老化测试：HTRB、HTGB、H3TRB、HTS【广电计量】
功率半导体测试：HTRB、HTGB、H3TRB、HTS
阅读(3937) 评论(0) 2022-04-30 21:39
功率半导体器件测试：静态\动态参数测试与可靠性试验（IGBT\MOSFET）
IGBT\MOSFET，功率半导体器件测试：静态\动态参数测试与可靠性试验
阅读(3880) 评论(0) 2022-04-21 16:22
IGBT模块：性能参数测试与可靠性验证测试【广电计量检测】
广电计量（GRGT）积极布局新型IGBT及第三代半导体功率器件的测试业务，引进国际先进的测试技术，为功率半导体产业上下游企业提供器件全参数检测服务。
阅读(2525) 评论(0) 2022-03-16 21:37
【广电计量】器件国产化验证：性能测试、可靠性验证、结构分析
元器件国产化验证项目包括：性能参数测试、可靠性寿命验证、结构分析等
阅读(1816) 评论(0) 2022-03-05 15:53
MEMS器件：微结构分析、材料分析、成分分析（FIB、SEM、TEM）
我司（广电计量检测股份有限公司）集成电路检测试验可对包括MEMS在内的半导体器件提供微观结构分析、材料形貌分析、膜层分析、成分分析等检测分析服务。
阅读(2249) 评论(0) 2021-12-09 16:10
集成电路、芯片质量一致性检验；超期复验【广电计量】
质量一致性检验来自于国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）。它是对电子元器件产品生产质量的一种检验方式，协助生产企业为了确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定而进行的质量控制方式。定期进行质量一致性检验，不仅可以随时判断生产产品批质量是否符合规定的要求，而且可以及时管控生产过程质量的稳定性。
阅读(2147) 评论(0) 2021-10-28 16:37
电子元器件质量一致性检验（分立器件、集成电路）【广电计量检测】
质量一致性检验来自于国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）。它是对电子元器件产品生产质量的一种检验方式，协助生产企业为了确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定而进行的质量控制方式。
阅读(1863) 评论(0) 2021-10-28 16:14
电子元器件存储有效期和超期复验【广电计量检测】
元器件的超期复验需按照超过有效存储期时间的长短进行分类。元器件的超期复验超过有效储存期的时间分为A、B、C三类。
阅读(3300) 评论(0) 2021-09-15 21:19
电子元器件批次质量一致性检验【广电计量检测】
一致性检验是指对由不同样本计算的各平均值或方差进行检验。 一致性检验 ,确定在一定显著性水平下各平均值或各方差之间是否有显著性差异,若无显著性差异,则各'f`均值或各方差是一致的,此称为一致性检验。
阅读(1866) 评论(0) 2021-09-15 14:45
电子元器件\微电子器件可靠性验证试验【广电计量检测】
可靠性试验是评价产品可靠性水平的重要手段。月前把测定、验证、评价、分析等凡是为提高产品可靠性而进行的试验，统称为可靠性试验。可靠性试验是开展产品可靠性工作的重要环节。
阅读(1995) 评论(0) 2021-09-13 22:19
JB 4027A-2006：军用电子元器件破坏性物理分析（DPA）
广电计量检测（GRGT）深耕电子元器件的失效分析与故障归零，为电子元器件、电机/机电部件、金属结构件失效能力提供系统的失效分析，能力涵盖器件设计、制造工艺、试验或应用等各阶段。
阅读(2024) 评论(0) 2021-07-28 22:03
军用电子元器件破坏性物理分析，GJB 4027A【广电计量检测】
广电计量检测（GRGT）深耕电子元器件的失效分析与故障归零，为电子元器件、电机/机电部件、金属结构件失效能力提供系统的失效分析，能力涵盖器件设计、制造工艺、试验或应用等各阶段。
阅读(3509) 评论(0) 2021-07-28 22:00
元器件国产化替代方案：元器件结构分析与基础应用验证
广电计量可靠性与环境试验*具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力，可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。
阅读(3018) 评论(0) 2021-07-21 20:55
材料TEM样品制备（截面、平面）；专业材料失效分析
在材料科学的研究中，TEM样品制备在电子显微学研究工作中，起着至关重要作用，是丰常精细的技术工作。要想得到好的TEM结果，首先要制备出好的薄膜样品。
阅读(1800) 评论(0) 2021-06-17 15:02
【广电计量检测】电子元器件、芯片DPA分析与失效分析FA
广电计量检测（GRGT）深耕电子元器件的失效分析与故障归零，为元器件、电机/机电部件、金属结构件失效能⼒提供系统的失效分析，能⼒涵盖器件设计、制造工艺、试验或应用等各阶段。
阅读(1946) 评论(0) 2021-04-15 14:14
【广电计量检测】电子元器件破坏性物理分析（DPA）、失效分析（FA）；
广电计量检测（GRGT）深耕电子元器件的失效分析与故障归零，为元器件、电机/机电部件、金属结构件失效能⼒提供系统的失效分析，能⼒涵盖器件设计、制造工艺、试验或应用等各阶段。
阅读(2217) 评论(0) 2021-03-12 11:14
【广电计量602所】电子元器件一次筛选、二次筛选；GJB7243
电子元器件筛选是通过⼀系列短期环境应力加速试验及测试技术，对整批电子元器件进行全批次非破坏性试验，挑选出具有特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收，提高产品使用可靠性。
阅读(2090) 评论(0) 2021-02-28 11:53
【广电计量检测】车载传感器、芯片、IGBT液态冲击试验；老练试验
广电计量检测（GRGT）拥有以氟油为介质的液态温冲试验能力，已完成了蓝牙芯片、 IGBT模组、MCU传感器等组件的液态温冲试验，与传统的气-气温冲相比，在更加有效地验证产品可靠性的同时，大大减少了试验时间，提升试验效率，缩短产品研发、定型、投产的时间。