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广电计量检测集团股份有限公司（GRGT）
环境与可靠性试验、失效分析、元器件筛选、芯片检测、功率器件检测、半导体工艺分析
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文章 (409篇) 展开 列表
软错误率评估实验（SER）|广电计量检测
广电计量作为专业第三方测试平台，在集成电路软错误率评估方面具备资深的技术开发团队，为集成电路产品提供包括AEC-Q100，ISO26262，IEC62396等的相关标准规定的集成电路软错误率评估实验提供技术咨询和技术服务，包括测试方案设计与优化，测试系统软硬件开发，辐射实验实施，数据收集与分析。
阅读(420) 评论(0) 2025-03-14 10:44
电机控制器测试：功能测试、耐久测试、可靠性测试
集齐控制器环境可靠性测试的、温度环境、高压 直流电源（电池）、低压直流电源、模拟负载（电感 电阻）、水冷系统于一起，全面记录各子部件和控制器的工作信息，能模拟电机各种工况，便于记录和分析控制的各类测试数据。同时还扩展高压和低压的电性能测试系统。
阅读(1264) 评论(0) 2024-06-01 11:30
IGBT、IPM、HPD模块测试【广电计量检测】
IGBT模块、IPM模块、HPD模块测试
阅读(1564) 评论(0) 2024-04-25 17:25
功率半导体器件、功率模块测试：参数测试、可靠性试验【广电计量检测】
我们拥有完善的功率半导体器件的测试与分析能力，所用的测试设备都是国内外高端设备。测试能力覆盖：分立器件、IGBT模块、IPM模块、HPD模块等。
阅读(1501) 评论(0) 2024-04-25 17:15
车规级电子元器件AEC-Q认证:AEC-Q100/101/102/104/200
广电计量出具具有权威性和公信力的AEC-Q检测验证报告，是国内一家已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AECQ200完整验证报告的第三方检测机构。
阅读(2112) 评论(0) 2023-12-01 15:49
ISO26262认证|汽车电子功能安全认证【广电计量检测】
广电计量具备专业技术团队，开展以产品安全功能验证为特色的ISO26262认证技术支持服务。以产品功能安全达成为目标，为客户提供ISO26262安全体系建立，产品各阶段技术安全概念建立与达成，辅导客户相关认可及验证评审等提供专业一体化的技术服务。
阅读(2028) 评论(0) 2023-10-31 14:39
芯片量产测试、ATE程序开发
芯片工程化测试开发；ATE测试；量产测试
阅读(1993) 评论(0) 2023-09-14 16:05
FIB制样、TEM分析；广电计量检测半导体试验室
广电计量的TEM技术团队由博士牵头，团队技术骨干的相关行业经验均在5年以上，不仅具有丰富的TEM结果解析经验，还具有丰富的FIB制样经验，具备7nm及以上先进制程晶圆的分析能力及各种半导体器件关键结构的解析能力
阅读(1841) 评论(0) 2023-09-14 13:04
集成电路/芯片质量一致性检验；广电计量检测
质量一致性检验是对电子元器件产品生产质量的一种检验方式，协助生产企业为了确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定而进行的质量控制方式。
阅读(2047) 评论(0) 2023-08-16 09:50
军工集成电路/芯片质量一致性检验|军工四证资质
质量一致性检验是对电子元器件产品生产质量的一种检验方式，协助生产企业为了确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定而进行的质量控制方式。
阅读(2808) 评论(0) 2023-08-15 10:54
集成电路、分立器件质量一致性检验
量一致性检验来自于国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）。它是对电子元器件产品生产质量的一种检验方式，协助生产企业为了确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定而进行的质量控制方式。
阅读(2467) 评论(0) 2023-05-27 16:15
集成电路/芯片质量一致性检验；军工元器件检测资质
集成电路、分立器件质量一致性检验、一筛
阅读(2197) 评论(0) 2023-05-27 15:57
FIB/TEM制样与分析；微观结构分析、材料成分、工艺分析
FIB/TEM制样与分析：晶圆制造工艺分析、芯片失效分析、半导体器件失效分析、芯片及半导体器件封装工艺分析
阅读(2256) 评论(0) 2023-05-27 11:10
TEM制样与分析：微观结构分析、元素成分分析、晶圆工艺分析
广电计量检测提供半导体材料：微观结构分析、元素成分分析、晶圆工艺分析。
阅读(2355) 评论(0) 2023-05-27 10:51
FIB/TEM测试；半导体材料分析
晶圆制造工艺分析、晶圆材料分析、半导体材料分析
阅读(2042) 评论(0) 2023-05-27 10:24
晶圆材料分析、半导体器件材料分析（FIB\TEM\SEM）
14nm及以上制程芯片晶圆制造工艺分析；MOSFET制造工艺分析；存储芯片制造工艺分析
阅读(2181) 评论(0) 2022-11-17 15:48
晶圆制造工艺分析、晶圆材料分析（FIB\TEM\SEM）
1、14nm及以上制程芯片晶圆制造工艺分析 2、MOSFET制造工艺分析 3、存储芯片制造工艺分析
阅读(2514) 评论(0) 2022-11-16 16:46
集成电路\芯片板级验证测试；SLT测试【广电计量检测】
广电计量可靠性与环境试验*具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力，可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。
阅读(4515) 评论(0) 2022-09-09 11:21
集成电路\芯片板级验证测试；系统级验证测试【广电计量检测】
芯片产业链长，而集成电路测试卡位产业链关键节点，贯穿设计、制造、封装以及应用的全过程。 在保证芯片质量，推向应用，提高产业链运转效率方面具有重要作用。
阅读(2713) 评论(0) 2022-09-09 11:12
军工装备电子元器件二次筛选；CNAS资质
军工装备电子元器件二次筛选